Dielektrik sabit test cihazının temel tanımı

Elektrostatiğin araştırma sonuçlarına göre, bir vakumdaki izole edilmiş bir yük Q, etrafında bir elektrik alanı E üretir ve Q0 başka bir test şarjı elektrik alanına girdiğinde bir elektrik alan kuvveti uygulanır. Şarj q tarafından üretilen elektrik alan mukavemeti:

Burada ε0 vakumda dielektrik sabitidir; R, nokta yükü q'dan radyal mesafedir. Genel olarak, elektrik alan gücü bir vektördür. Test yükü Q0'un q yükünden R mesafesinde yaşadığı elektrik saha kuvveti şunlardır:

Kuvvetin reaksiyon özelliğine göre, q yükü, Q0 test yükü tarafından üretilen elektrik alanının kuvvetinden de etkilenir ve kuvvetin büyüklüğü eşit ve zıttır. Denklem (1) 'e göre, vakumdaki dielektrik sabiti ε0, izole edilmiş yük tarafından üretilen elektrik alan gücünün büyüklüğünü belirli bir mesafe r üzerinde karakterize eder. Denklem (1) 'deki vakum koşulu bir dielektrikle değiştirilirse, aynı izole edilmiş yük tarafından üretilen elektrik alan gücü q olarak ifade edilecektir.

Burada ε, dielektrikin dielektrik sabitidir. Pratik uygulamalarda, vakumdaki dielektrik sabiti ε0 genellikle bir referans olarak seçilir ve dielektrikin dielektrik sabitinin ε oranı, denklem (4) 'de olduğu gibi boyutsuz bir nispi geçirgenlik εr olarak tanımlanır. Göstermek:

Vakum ideal bir dielektrik model (atom yok, moleküller yok) olduğundan, orijinal yük Q tarafından üretilen elektrik alanı, boş yük etkisi nedeniyle gerçek dielektrikte azaltılır, bu da boşlukta meydana gelmesi muhtemel değildir. Bu nedenle, gerçek dielektrik için nispi dielektrik sabiti her zaman 1'den daha büyük veya eşittir.

Denklem (3) 'den dielektrik sabitinin, q yükü tarafından dielektrikte üretilen elektrik alan gücünün büyüklüğü üzerinde bir kısıtlamayı temsil ettiği görülebilir (mesafeye ek olarak, aynı zamanda tek kısıtlamadır). Açıkçası, bu çıkarım elektrostatik bir alan durumunda tamamen kabul edilebilir, ancak bu çıkarımın doğrudan alternatif elektrik alanına uygulanması biraz yetersiz görünmektedir. Alternatif elektrik alanı altında dielektrikin mikroskobik temsil mekanizması ve makroskopik etkisi üzerine yapılan araştırma bazı sonuçlar elde etmiştir, ancak yine de daha fazla araştırmaya ihtiyaç vardır. Aynı zamanda dielektrik fiziğinin ve kuantum fiziğinin önemli araştırma yönlerinden ve içeriğinden biridir.

Dielektrikin dielektrik sabiti ile karakterize edilen özelliğin, alternatif bir elektrik alanı durumunda alternatif elektrik alanını da etkilediği doğrulanabilir. Örneğin, bir dielektrik içindeki alternatif bir elektrik alanının yayılma hızı azalır, frekans sabit olacaktır, dalga boyu daha kısa olacaktır (elektromanyetik yayılma teorisi) ve dielektrik sabiti daha büyük olacak ve karşılık gelen değişiklik daha büyük olacaktır.

Dielektrik sabit test cihazının temel tanımı

Dielektrik sabit test cihazının ana teknik göstergeleri:

2.1 Tany ve ε Performans:

2.1.1 Katı yalıtım malzemelerinin 10 kHz ila 120 MHz arasında test frekansları ile TAN δ ve ε değişiklikleri.

2.1.2 Tany ve ε ölçüm aralığı:

Tan Δ: 0.1 ila 0.00005, ε: 1 ila 50

2.1.3 Tany ve ε ölçüm doğruluğu (1MHz):

Tany: ±%5 ± 0.00005, ε: ±%2

Çalışma frekansı aralığı: 50kHz ~ 50MHz dört haneli ekran, voltaj kontrollü osilatör

Q Değer Ölçüm Aralığı: 1 ila 1000 Üç Hanlı Ekran, ± 1q çözünürlük

Ayarlanabilir Kapasitans Aralığı: 40 ~ 500pf ΔC ± 3pf

Kapasitans ölçüm hatası: ±% 1 ± 1pf

Q Tablo artık endüktans değeri: yaklaşık 20nh

Dielektrik sabit test cihazı özellikleri:

◎ Şirketin yenilikçi otomatik Q-değeri elde tutma teknolojisi, Q çözünürlüğünün 0.1q'ye ölçülmesini sağlar ve bu da 0.00005 tan δ çözünürlüğüne neden olur.

◎ 10 kHz ila 120 MHz'de katı bir yalıtım malzemesinin dielektrik kaybı açısı (tan δ) ve dielektrik sabiti (ε) için bir test.

Tuning Döngüsünün artık endüktansı 8nh kadar düşüktür, bu da 100MHz (Tanδ) ve (ε) 'da daha az hata garanti eder.

◎ Özel LCD Ekran Menüsü Ekran Çok parametreler: Q değeri, test frekansı, ayarlama durumu, vb.

◎ Q Değer Aralığı Otomatik / Manuel Aralık Kontrolü.

◎ DPLL sentezi 1kHz ~ 60MHz, 50kHz ~ 160MHz test sinyali. Bağımsız sinyal kaynak çıkışı, bu nedenle bu ünite kompozit bir sinyal kaynağıdır.

◎ Test cihazı, ulusal standart GB/T 1409-2006, Amerikan Standart ASTM D150 ve IEC60250'nin gereksinimlerini karşılıyor.

Dielektrik sabit test cihazı 10 kHz ila 120 MHz arasında çalışır ve çalışma frekansındaki malzemelerin yüksek frekanslı dielektrik kaybını (tan δ) ve dielektrik sabitini (ε) test edebilir.

Bu cihazdaki test cihazı bir plaka kapasitörü ve mikro silindirli doğrusal kapasitörden oluşur. Plaka kapasitörü genellikle test edilecek numuneyi kelepçelemek için kullanılır ve Q metre gösterge cihaz olarak kullanılır.

Yalıtım malzemesinin kayıp teğet, ölçülen numunenin plaka kapasitörüne yerleştirilmesi ve numunenin Q değerini ve kalınlığın ölçek okumasını değiştirerek formül tarafından hesaplanır.

Benzer şekilde, mikrokapasitör doğrusal kapasitörün kapasitans okuması değiştirilir ve dielektrik sabiti formül tarafından hesaplanır.